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GB/T 23229-2009 水载型木材防腐剂分析方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-23 09:35:32  浏览:8638   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:水载型木材防腐剂分析方法
英文名称:Methods for analysis of waterborne wood preservatives
中标分类: 农业、林业 >> 林业 >> 林业基础标准与通用方法
ICS分类: 木材技术 >> 木材加工技术
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-02-23
实施日期:2009-08-01
首发日期:2009-02-23
作废日期:
主管部门: 国家林业局
提出单位: 国家林业局
归口单位: 全国木材标准化技术委员会
起草单位:中国林业科学研究院木材工业研究所、广东省林业科学研究院
起草人:蒋明亮、苏海涛、李晓文、张燕君、张颖、陈利芳
出版社:中国标准出版社
出版日期:2009-06-01
页数:12页
计划单号:20050303-T-432
书号:155066·1-37692
适用范围

本标准规定了水载型防腐剂铜铬砷(CCA)、季铵铜(ACQ)、铜唑(CuAz)、硼化物以及防腐木材中
有效成分铜、二癸基二甲基氯化铵(DDAC)、十二烷基苄基二甲基氯化铵(BAC)、戊唑醇(TEB)、丙环唑(PPZ)和硼的测定方法以及防腐木材透入度的确定方法。
本标准适用于国内水载型防腐剂和防腐木材中有效成分的测定。

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引用标准

GB/T14019 木材防腐术语
LY/T1635 木材防腐剂
LY/T1636 防腐木材的使用分类和要求
SB/T10404 水载型防腐剂和阻燃剂主要成分的测定

所属分类: 农业 林业 林业 林业基础标准与通用方法 木材技术 木材加工技术
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基本信息
标准名称:表面污染测定 第1部分: β发射体(Eβmax>0.15MeV)和α发射体
英文名称:Evaluation of surface contamination—Part 1:Beta-emitters(maximum beta energy greater than 0.15 MeV)and alpha emitters
中标分类: 能源、核技术 >> 辐射防护与监测 >> 辐射防护检测与评价
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 辐射测量
替代情况:替代GB/T 14056-1993
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2008-07-02
实施日期:2009-04-01
首发日期:1993-01-04
作废日期:
主管部门:全国核能标准化技术委员会(SAC/TC 58)
提出单位:中国核工业集团公司
归口单位:全国核能标准化技术委员会(SAC/TC 58)
起草单位:核工业标准化研究所
起草人:高米力、张立波
出版社:中国标准出版社
出版日期:2009-04-01
页数:20页
适用范围

GB/T 14056的本部分规定了测定β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α-发射体表面污染的方法。
本部分适用于以单位面积放射性活度表示的设备、设施、放射性物质的容器以及密封源的表面污染测定。
GGB/T 14056《表面污染测定》包括3个部分,本部分是GB/T 14056 的第1部分,本部分修改采用国际标准ISO 7503.1:1988《表面污染测定———第1部分:β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体》
本部分代替GB/T 14056-1993《表面污染测定 第1部分:β发射体》(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体》,本部分与GB/T 14056-1993相比主要变化如下:
——对原文中少数条款的表述进行了修改;
——恢复了GB/T 14056-1993相对于ISO 7503.1:1988删去的部分,包括4.2.3.6的注,5.6的注3、注4、注5,A.2的最后一款。

前言

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引用标准

下列文件中的条款通过GB/T14056的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T5202 辐射防护仪器 α、β和α/β(β能量大于60keV)污染测量仪与监测仪(GB/T5202-2008,IEC60325:2002,IDT)
GB/T12128 用于校准表面污染监测仪的参考源β 发射体和α 发射体(GB/T12128-1989,neqISO8769:1986)
GB18871 电离辐射防护与辐射源安全基本标准

所属分类: 能源 核技术 辐射防护与监测 辐射防护检测与评价 计量学和测量 物理现象 辐射测量
基本信息
标准名称:硅外延片
英文名称:Silicon epitaxial wafers
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 14139-1993
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1993-02-06
作废日期:
主管部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:宁波立立电子股份有限公司
起草人:许峰、刘培东、李慎重、谌攀
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20062372-T-469
适用范围

本标准规定了硅外延片的产品分类、技术要求、试验方法和检验规则及标志、包装运输、贮存等。
本标准适用于在N 型硅抛光片衬底上生长的n型外延层(N/N+ )和在p型硅抛光片衬底上生长的P型外延层(P/P+ )的同质硅外延片。产品主要用于制作硅半导体器件。其他类型的硅外延片可参照使用。

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引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款?凡是注日期的引用文件,其随后所有
的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本?凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准?
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1 部分;按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
(GB/T2828.1-2003,ISO28591;1999,IDT)
GB/T6617 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T6624 硅抛光片表面质量目测检验方法
GB/T12962 硅单晶
GB/T12964 硅单晶抛光片
GB/T13389 掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂浓度换算规程
GB/T14141 硅外延层?扩展层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
GB/T14142 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
GB/T14145 硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法
GB/T14146 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容电压法
GB/T14246 半导体材料术语
GB/T14847 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
YS/T24 外延钉缺陷的检验方法

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料