JJG 424-1986 TO7(TO7A)型衰减校准装置检定规程
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基本信息
标准名称: | TO7(TO7A)型衰减校准装置检定规程 |
英文名称: | Attenuation Calibration Set Type TO7(TO7A) |
中标分类: |
综合 >>
计量 >>
无线电计量 |
发布部门: | 国家计量局 |
发布日期: | 1986-02-01 |
实施日期: | 1987-01-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
归口单位: | 中国计量科学研究院 |
起草单位: | 国营第七六七厂、中国计量科学研究院 |
起草人: | 孙玉南、戴三和 |
出版社: | 中国计量出版社 |
出版日期: | 1987-01-01 |
页数: | 15页 |
适用范围
本规程适用于新生产、使用中和修理后的TO7(TO7A)衰减校准装置的检定。TO6,VM-3等并联中频替代衰减校准装置的检定亦可参照本规程执行。
前言
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引用标准
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所属分类: 综合 计量 无线电计量
【英文标准名称】:Rubber,vulcanizedorthermoplastic-Determinationofstressrelaxationincompressionatambientandatelevatedtemperatures
【原文标准名称】:硫化或热塑性橡胶.常温和高温下压缩时应力松弛的测定
【标准号】:ISO3384-2005
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2005-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC45
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:松弛试验;热塑性聚合物;压缩试验;橡胶;试验;应力;温度;硫化橡胶;压力试验
【英文主题词】:Ambienttemperature;Compression;Compressionset;Compressiontesting;Compressiontests;Compressivestress;Definitions;Dimensions;Elastomers;Materialstesting;Precision;Pressure;Pressuretests;Relaxationtests;Rubber;Rubbertechnology;Strain;Stress;Stressrelaxation;Temperature;Testduration;Testequipment;Testspecimens;Testtemperatures;Testing;Thermoplastic;Thermoplasticpolymers;Thicknessmeasurement;Upsetting;Viscoelasticity;Vulcanizedmaterials;Vulcanizedrubber
【摘要】:ThisInternationalStandardspecifiestwomethodsfordeterminingthedecreaseincounterforceexertedbyatestpieceofvulcanizedorthermoplasticrubberwhichhasbeencompressedtoaconstantdeformationandmaintainedthusatapredeterminedtesttemperature.Twoformsoftestpiecearepermitted:cylindricaltestpiecesandrings.Differentshapesandsizesoftestpiecegivedifferentresults,andcomparisonofresultsshouldbelimitedtotestpiecesofsimilarsizeandshape.Theuseofringtestpiecesisparticularlysuitableforthedeterminationofstressrelaxationinliquidenvironments.Testingattemperaturesbelowstandardlaboratorytemperatureisnotspecified.Themethodshavebeenusedforlow-temperaturetesting,buttheirreliabilityundertheseconditionsisnotproven.
【中国标准分类号】:G34
【国际标准分类号】:83_060
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 半导体分立器件 3DK102型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 |
英文名称: | Semiconductor discrete device-Detail specification for silicon NPN low power switching transistor of Type 3DK102 |
中标分类: |
综合 >>
标准化管理与一般规定 >>
技术管理 |
发布部门: | 中国电子工业总公司 |
发布日期: | 1992-11-19 |
实施日期: | 1993-05-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
提出单位: | 中国电子工业总公司科技质量局 |
归口单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草单位: | 中国电子技术标准化研究所和石家庄无线电二厂 |
起草人: | 王长福、王承琳、谢佩兰 |
出版社: | 电子工业出版社 |
出版日期: | 1993-04-01 |
页数: | 10页 |
适用范围
本规范规定T3DKl02型NPN硅小功率开关晶体管(以下简称器件)的详细要求。每种器件按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级)。
前言
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引用标准
GB 4587-1984 双极型晶体管测试方法
GB 7092-1986 半导体集成电路外形尺寸
GJB 33-1985 半导体分立器件总规范
GJB 128-1986 半导体分立器件试验方法
所属分类: 综合 标准化管理与一般规定 技术管理